P.L. Bourgeois, JoCP 413, 109426 (2020), https://doi.org/10.1016/j.jcp.2020.109426

Publication sur l’amélioration des schémas numériques dans les codes PIC pour mieux simuler les propriétés transverses (émittance, divergence, taille transverse) des faisceaux d’électrons accélérés par sillage laser.